DeviceScan erleichtert die Fehlerfindung
verfasst von HorstRasner am 2008-09-02 08:05:08, zu Kategorie: Elektronik
Karlsruhe: Hitex Development Tools stellt DeviceScan vor, ein Diagnosesystem für den Test von Mikrocontrollern, die bereits in das Endprodukt integriert wurden. Mit DeviceScan lässt sich insbesondere feststellen, ob ein in der Applikation auftretender Fehler vom Mikrocontroller ausgeht oder nicht.
Karlsruhe: Hitex Development Tools stellt DeviceScan vor, ein Diagnosesystem für den Test von Mikrocontrollern, die bereits in das Endprodukt integriert wurden. Mit DeviceScan lässt sich insbesondere feststellen, ob ein in der Applikation auftretender Fehler vom Mikrocontroller ausgeht oder nicht.
Hierbei macht sich DeviceScan ein spezielles Features des Mikrocontrollers zunutze, nämlich den Single Scan Chain Mode (SSCM). In diesem Modus kann der Prozessor mit den gleichen Testvektoren getestet werden, wie sie bei der Produktion im Endtest eingesetzt werden. Auf Basis der USB-gesteuerten Tantino-Hardware verwaltet DeviceScan die Testvektoren, steuert den Testablauf und wertet die Testergebnisse aus.
Für spezielle Applikationen können kundenspezifische Lösungen geliefert werden. Ergänzend zur Überprüfung des Prozessorzustands wird durch einen detaillierten Testreport die exakte Fehlerlokalisierung im Gerät ermöglicht.
Bild: Hitex
